高低溫試驗(yàn)箱用于電子電器元件、自動化元件、通訊元件、汽車零部件、金屬、化工材料、塑料等行業(yè)、國防工業(yè)、航空航天、行業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷和高分子材料的物理變化，測試材料對高低溫的反復(fù)抵抗，以及產(chǎn)品因熱脹冷縮引起的化學(xué)變化或物理損壞，可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量，從精密IC到重型機(jī)械全部采用元器件，是各領(lǐng)域產(chǎn)品測試的測試箱。
電子元件是整機(jī)的基礎(chǔ)。在制造過程中，由于制造過程的固有缺陷或控制不當(dāng)，可能會導(dǎo)致與時(shí)間或應(yīng)力相關(guān)的故障。為保證整批元器件的可靠性，滿足整機(jī)要求，在使用條件下可能出現(xiàn)初始失效的元器件必須拆除。元件故障率隨時(shí)間變化的過程可以用類似于“浴盆曲線"的故障率曲線來描述。早期故障率隨著時(shí)間的增加迅速下降，使用壽命內(nèi)（或意外故障期）的故障率基本不變。
1. 高溫儲存
電子元器件的故障大部分是由機(jī)體和表面的各種物理化學(xué)變化引起的，與溫度密切相關(guān)。溫度升高后，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，失效過程也加快。從而使有缺陷的元器件能夠及時(shí)暴露出來并去除。
高溫篩選廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件中?？捎行哂斜砻嫖廴?、鍵合不良、氧化層缺陷等失效機(jī)制的器件。通常在結(jié)溫下儲存 24 至 168 小時(shí)。
高溫篩分簡單易行，成本不大，可以在很多元件上實(shí)施。經(jīng)過高溫儲存后，可以穩(wěn)定元件的參數(shù)性能，減少使用中的參數(shù)漂移。應(yīng)適當(dāng)選擇各種部件的熱應(yīng)力和篩選時(shí)間，以避免出現(xiàn)新的失效機(jī)制。
2.電源電老化
篩選時(shí)，在熱電應(yīng)力的共同作用下，可以很好地暴露元器件本體和表面的各種潛在缺陷，是可靠性篩選的一項(xiàng)重要內(nèi)容。
各種電子元件通常在額定功率條件下老化數(shù)小時(shí)至168小時(shí)。有些產(chǎn)品，比如集成電路，是不能隨意改動的。然而，高溫工作可用于提高工作結(jié)溫并達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài)。應(yīng)適當(dāng)?shù)剡x擇部件的電應(yīng)力，這可以等于或略高于額定條件，但不能引入新的失效機(jī)制。
電源老化需要專門的測試設(shè)備，成本高，篩選時(shí)間不宜過長。民用產(chǎn)品通常需要幾個(gè)小時(shí)，高可靠產(chǎn)品可以選擇100、168小時(shí)，航天級部件可以選擇240小時(shí)甚至更長的時(shí)間。
3. 溫度循環(huán)
電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，熱匹配性能差的元件很可能會失效。溫度循環(huán)篩選利用溫與極低溫之間的熱脹冷縮應(yīng)力，可有效剔除具有熱性能缺陷的產(chǎn)品。常用的組分篩選條件為-55～+125℃，循環(huán)5-10次。
4、元件篩選的必要性
電子元器件的內(nèi)在可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)。在產(chǎn)品的制造過程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動，最終產(chǎn)品無法全部達(dá)到預(yù)期的內(nèi)在可靠性。
在每一批成品中，總有一些產(chǎn)品存在一些潛在的缺陷和弱點(diǎn)，這些潛在的缺陷和弱點(diǎn)在一定的應(yīng)力條件下表現(xiàn)為早期失效。早期失效的部件的平均壽命比正常產(chǎn)品短得多。
電子設(shè)備能否可靠工作，取決于電子元器件能否可靠工作。如果在整機(jī)和設(shè)備上安裝早期故障部件，則整機(jī)和設(shè)備的早期故障率將大大增加，其可靠性達(dá)不到要求，而且維修費(fèi)用很高。
因此，在將電子元件安裝到整機(jī)和設(shè)備上之前，必須盡量排除早期故障的元件。為此，必須篩選組件。根據(jù)國內(nèi)外的篩選經(jīng)驗(yàn)，有效的篩選可以將元器件的總故障率降低1-2個(gè)數(shù)量級。因此，無論是產(chǎn)品還是民用產(chǎn)品，篩選都是保證可靠性的重要手段。
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